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    Titel :

    Terahertz reflectometry images faults in silicon chips


    Beteiligte:
    Nagel, M. (Autor:in) / Kurz, H. (Autor:in)

    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 47 , 11 ; 61-64


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2011


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366



    Phase-sensitive time-domain terahertz reflectometry

    Pashkin, A. / Kadlec, F. / Nemec, H. et al. | IEEE | 2004




    Fault Location on Silicon Chips

    British Library Online Contents | 1998


    Opportunities for optics to silicon chips

    Miller, D.A.B. | IEEE | 2005