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    Titel :

    Pattern recognition methods for thermal drift correction in Atomic Force Microscopy imaging


    Beteiligte:
    D’Acunto, M. (Autor:in) / Salvetti, O. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2011


    Format / Umfang :

    11 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    006.4



    Control Strategies Towards Faster Quantitative Imaging in Atomic Force Microscopy

    Stemmer, A. / Schitter, G. / Rieber, J. M. et al. | British Library Online Contents | 2005


    Optical Microscopy, Atomic Force Microscopy (AFM) and SNOM

    Birmelin, M. | British Library Online Contents | 1998


    Atomic force microscopy in zero-g

    Friedfeld, R. / Parker, S. / Rodgers, G. et al. | IEEE | 2003


    Atomic Force Microscopy Studies of Fibers

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


    Atomic and Scanning Force Microscopy in Space

    Hartmann, E. et al. | British Library Online Contents | 1996