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    Titel :

    Rapid optical measurement of surface roughness of BiFeO3 films for nonvolatile memory application


    Beteiligte:
    Kuo, C. C. (Autor:in) / Chao, C. S. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2010


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3827





    Material dependency on optical surface roughness measurement

    Ng,G. / North,W. / Bachan Aerospace,CA et al. | Kraftfahrwesen | 1987


    Surface Roughness Measurement by Optical Pattern Projection

    Inari, T. | British Library Online Contents | 1998


    A New Optical Technique for Surface Roughness Measurement of Tio~2 Thin Films

    Kuo, C.C. / Chen, Y.R. | British Library Conference Proceedings | 2012