Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    A New Optical Technique for Surface Roughness Measurement of Tio~2 Thin Films


    Beteiligte:
    Kuo, C.C. (Autor:in) / Chen, Y.R. (Autor:in) / Fan, Wu

    Kongress:

    International conference; 2nd, Mechanical and aerospace engineering; (ICMAE) 2011) ; 2011 ; Bangkok, Thailand



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2012


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    Includes bibliographical references and index.




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Novel spatial scanning technique for surface roughness measurement

    Xie, F. / Zhang, W. / Jiang, X.Q. et al. | IEEE | 2003


    Novel Spatial Scanning Technique for Surface Roughness Measurement

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2003


    Material dependency on optical surface roughness measurement

    Ng,G. / North,W. / Bachan Aerospace,CA et al. | Kraftfahrwesen | 1987


    Surface Roughness Measurement by Optical Pattern Projection

    Inari, T. | British Library Online Contents | 1998