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    Titel :

    Micro-crack inspection in heterogeneously textured solar wafers using anisotropic diffusion


    Beteiligte:
    Tsai, D. M. (Autor:in) / Chang, C. C. (Autor:in) / Chao, S. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    IMAGE AND VISION COMPUTING ; 28 , 3 ; 491-501


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2010


    Format / Umfang :

    11 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.367





    Anisotropic textured surface

    HAWKINS THOMAS / WALTERS DAVID / FANTA ALAN | Europäisches Patentamt | 2023

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