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    Titel :

    Micromanipulation system using scanning electron microscope


    Beteiligte:
    Nakazato, Y. (Autor:in) / Yuasa, T. (Autor:in) / Sekine, G. (Autor:in) / Miyazawa, H. (Autor:in) / Jin, M. (Autor:in) / Takeuchi, S. (Autor:in) / Ariga, Y. (Autor:in) / Murakawa, M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MICROSYSTEM TECHNOLOGIES ; 15 , 6 ; 859-864


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2009


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    629.83





    Advanced micromanipulation using Bessel beams

    McGloin, D. / Garces-Chavez, V. / Melville, H. et al. | IEEE | 2003


    Three-dimensional reconstruction for scanning electron microscope

    Zolotukhin, D. A. / Safonov, I. V. / Kryzhanovsky, K. A. | British Library Online Contents | 2011


    3D reconstruction for a scanning electron microscope

    Zolotukhin, A. A. / Safonov, I. V. / Kryzhanovskii, K. A. | British Library Online Contents | 2013