Testen von FPGA-Digitalsystemen: Integrierter Logikanalysator verkurzt Entwicklungszeit drahtloser Sensormodule
ELEKTRONIK -MUNICH- ; 57 , 23 ; 50-53
01.01.2008
4 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Deutsch
DDC: | 621.3 |
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