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    Titel :

    Independent component analysis-based defect detection in patterned liquid crystal display surfaces


    Beteiligte:
    Lu, C. J. (Autor:in) / Tsai, D. M. (Autor:in)

    Erschienen in:

    IMAGE AND VISION COMPUTING ; 26 , 7 ; 955-970


    Erscheinungsdatum :

    2008-01-01


    Format / Umfang :

    16 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.367



    Independent Component Analysis for Texture Defect Detection

    Sezer, O. G. / Ertiizun, A. / Ercil, A. | British Library Online Contents | 2004


    Defect Detection on Patterned Jacquard Fabric

    Ngan, H. / Pang, G. / Yung, S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2004


    Defect detection on patterned jacquard fabric

    Ngan, H.Y.T. / Pang, G.K.H. / Yung, S.P. et al. | IEEE | 2003


    Defect detection in textile fabric images using wavelet transforms and independent component analysis

    Serdaroglu, A. / Ertuzun, A. / Ercil, A. | British Library Online Contents | 2006


    Defect detection in patterned wafers using anisotropic kernels

    Zontak, M. / Cohen, I. | British Library Online Contents | 2010