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    Titel :

    Degradation Mode Analysis on Highly Reliable Guardring-Free Planar InAlAs Avalanche Photodiodes


    Beteiligte:
    Ishimura, E. (Autor:in) / Yagyu, E. (Autor:in) / Nakaji, M. (Autor:in) / Ihara, S. (Autor:in) / Yoshiara, K. (Autor:in) / Aoyagi, T. (Autor:in) / Tokuda, Y. (Autor:in) / Ishikawa, T. (Autor:in)

    Erschienen in:

    JOURNAL OF LIGHTWAVE TECHNOLOGY ; 25 , 12 ; 3686-3693


    Erscheinungsdatum :

    2007-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



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