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    Titel :

    Lifetime Tests and Junction-Temperature Measurement of InGaN Light-Emitting Diodes Using Patterned Sapphire Substrates


    Beteiligte:
    Tsai, P. C. (Autor:in) / Chuang, R. W. (Autor:in) / Su, Y. K. (Autor:in)

    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2007


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3692



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