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    Titel :

    Sensitivity of Homogeneity Mapping of Semiconducting Wafer Using Millimeter Waves


    Beteiligte:
    Kancleris, Z. (Autor:in) / Laurinavicius, A. (Autor:in) / Anbinderis, T. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    12 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3612



    Sensitivity of Homogeneity Mapping of Dielectric Wafer Using Millimeter Waves

    Kancleris, Z. / Laurinavicius, A. / Anbinderis, T. | British Library Online Contents | 2004


    Nondestructive Material Homogeneity Characterization by Millimeter Waves

    Laurinavicius, A. / Anbinderis, T. / Martjanova, O. et al. | British Library Online Contents | 2001


    Millimeter waves

    King, D. D. | NTRS | 1963


    Diplexing Millimeter Waves

    Geist, T. / Siart, U. | British Library Online Contents | 1998


    Traffic control systems using millimeter waves

    Yoneyama, T. / Kotaki, M. | Tema Archiv | 1992