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    Titel :

    Nondestructive Material Homogeneity Characterization by Millimeter Waves


    Beteiligte:
    Laurinavicius, A. (Autor:in) / Anbinderis, T. (Autor:in) / Martjanova, O. (Autor:in) / Prisutov, J. (Autor:in) / Abrutis, A. (Autor:in) / Teiserskis, A. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.3612



    Sensitivity of Homogeneity Mapping of Dielectric Wafer Using Millimeter Waves

    Kancleris, Z. / Laurinavicius, A. / Anbinderis, T. | British Library Online Contents | 2004


    Sensitivity of Homogeneity Mapping of Semiconducting Wafer Using Millimeter Waves

    Kancleris, Z. / Laurinavicius, A. / Anbinderis, T. | British Library Online Contents | 2004


    Nondestructive material characterization by laser-excited longitudinal and shear acoustic waves [2713-63]

    Karabutov, A. A. / Podymova, N. B. / SPIE et al. | British Library Conference Proceedings | 1996


    Diplexing Millimeter Waves

    Geist, T. / Siart, U. | British Library Online Contents | 1998


    A Millimeter-Wave Technique for Nondestructive Testing on Nonmetallic Materials

    Bai, B. | British Library Conference Proceedings | 1996