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    Titel :

    Heterodyne interferometer with two spatial-separated polarization beams for nanometrology


    Beteiligte:
    Wu, C. M. (Autor:in) / Lin, S. T. (Autor:in) / Fu, J. (Autor:in)

    Erschienen in:

    OPTICAL AND QUANTUM ELECTRONICS ; 34 , 12 ; 1267-1276


    Erscheinungsdatum :

    01.01.2002


    Format / Umfang :

    10 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    537.5





    Two-dimensional linear birefringent parameters measurement by polarization-shifting heterodyne interferometer

    Teng, H.-K. / Chou, C. / Hsieh, T.-S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003



    Development of a combined optical and x-ray interferometer (COXI) system for nanometrology [3479-12]

    Yim, N. B. / Kim, M. S. / Eom, C. I. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998