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    Titel :

    Hot Carrier Reliability Simulation for CMOS Analog Circuits


    Beteiligte:
    Pressecq, F. (Autor:in) / Bordonado, B. (Autor:in) / Noullet, J. L. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    500.5 / 387.8



    Hot Carrier Reliability Simulation for CMOS Analog Circuits

    Pressecq, F. / Bordonado, B. / Noullet, J. L. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Simulation of analog Costas loop circuits

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    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994


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