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    Titel :

    An Assessment of Long Term Degradation Mechanisms in GaAs MMICs


    Beteiligte:
    Lindsay, C. E. (Autor:in) / Garat, F. (Autor:in) / Bolbot, P. H. (Autor:in) / Conlon, R. F. B. (Autor:in) / Marchand, L. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    1997-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    500.5 / 387.8



    An Assessment of Long Term Degradation Mechanisms in GaAs MMICs

    Lindsay, C. E. / Garat, F. / Bolbot, P. H. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Hydrogen degradation of GaAs MMICs and hydrogen evolution in the hermetic package

    Saito, Y. / Griese, R. / Kessler, J. et al. | Tema Archiv | 1995


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    PODELL, ALLEN / LOCKIE, DOUG | AIAA | 1988


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    Mahle, C. / Huang, H.C. | Tema Archiv | 1985


    GaAs MMICs based components and frontends for millimeterwave communication and sensor systems

    Daembkes, H. / Adelseck, B. / Schmidt, L.P. et al. | Tema Archiv | 1995