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    Titel :

    An Assessment of Long Term Degradation Mechanisms in GaAs MMICs


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference; 3rd, Electronic components ; 1997 ; Noordwijk; The Netherlands



    Erscheinungsdatum :

    1997-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages


    Anmerkungen:

    Also known as EECC'97



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    An Assessment of Long Term Degradation Mechanisms in GaAs MMICs

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