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    Titel :

    Transmission Line Pulse Based Reliability Investigations of THz Schottky Diodes


    Beteiligte:
    Brandt, M. (Autor:in) / Schuessler, M. (Autor:in) / Lin, C. I. (Autor:in) / Simon, A. (Autor:in) / Hartnagel, H. L. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    6 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    500.5 / 387.8



    Transmission Line Pulse Based Reliability Investigations of THz Schottky Diodes

    Brandt, M. / Schuessler, M. / Lin, C. I. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    Reliability of THz Whisker Contacted Schottky Diodes

    Pike, J. / Calvert, T. / Maaskant, P. et al. | British Library Conference Proceedings | 2000


    New process produces high-power Schottky diodes

    Cordes, L. F. / Garfinkel, M. / Taft, E. A. | NTRS | 1977


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    Chintakula, Goutam | Online Contents | 2010


    Conversion Losses In GaAs Schottky-Barrier Diodes

    Von Roos, Oldwig / Wang, Ke-Li | NTRS | 1988