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    Titel :

    Maker fringes map defects in lithium niobate wafers


    Erschienen in:

    LASER FOCUS WORLD ; 33 , 9 ; 32-35


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    4 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    621.366



    Maker Fringe Analysis of Z-cut Lithium Niobate

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1997


    Maker fringe analysis of z-cut lithium niobate

    Aust, J.A. / Sanford, N.A. / Amin, J. | IEEE | 1997


    Micro-Raman investigation of optical quality lithium niobate wafers [5451-12]

    Caccavale, F. / Morbiato, A. / Properzi, M. et al. | British Library Conference Proceedings | 2004