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    Titel :

    Electrooptic characterization of modulation-doped field-effect transistors with monolithically-integrated test fixtures


    Beteiligte:
    Zeng, A. (Autor:in) / Jackson, M. K. (Autor:in) / Van Hove, M. (Autor:in) / De Raedt, W. (Autor:in)


    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Zeitschrift)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Klassifikation :

    DDC:    537.5



    Comparison of Electrooptic Modulation Methods

    Hannan, William J. / Bordogna, Joseph | IEEE | 1968


    Electrooptic phase modulation gas correlation spectroradiometry

    Rider, David M. / Schofield, John T. / Mccleese, Daniel J. | NTRS | 1988


    Integrated Electrooptic Multielectrode Tunable Filter

    Brooks, D. / Ruschin, S. | British Library Online Contents | 1995



    Optoelectronic Smart Pixels Monolithically Integrated

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1994