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    Titel :

    Micro Deformation Measurement Using Temporal Phase-Shifting and Spatial-Carrier Digital Speckle Pattern Interferometry


    Beteiligte:
    Wu, Sijin (Autor:in) / Gao, Xinya (Autor:in) / Lv, Yong (Autor:in) / Jiang, Yanpeng (Autor:in) / Fang, Yao (Autor:in) / Zhou, Aiguo (Autor:in)

    Kongress:

    SAE 2016 World Congress and Exhibition



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2016


    Format / Umfang :

    ALL-ALL



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Phase-shifting comparative speckle pattern interferometry

    Moustafa,N. / Kornis,J. / Fuezessy,Z. et al. | Kraftfahrwesen | 1998


    Precision Measurement of Deformation Using a Self-calibrated Digital Speckle Pattern Interferometry (DSPI)

    Yang, Lianxiang / Xu, Nan / Feng, Qibo et al. | SAE Technical Papers | 2010


    Phase-shifting speckle interferometry for complete in-plane displacement measurement

    Moore, A. J. / Tyrer, J. R. / Institute of Physics; Applied Optics Division et al. | British Library Conference Proceedings | 1990


    Double-pulsed-carrier speckle-shearing pattern interferometry for transient deformation analysis [3478-35]

    Fernandez, A. / Doval, A. F. / Davila, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 1998