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    Titel :

    Diagnostic Coverage Evaluation Method for Analog Circuits to Comply with Functional Safety Standards


    Beteiligte:
    Inada, Ryoichi (Autor:in) / Hirotsu, Teppei (Autor:in) / Morita, Yasushi (Autor:in) / Hata, Takahiro (Autor:in)

    Kongress:

    SAE 2015 World Congress and Exhibition



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2015


    Format / Umfang :

    ALL-ALL



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch



    Diagnostic Coverage Evaluation Method for Analog Circuits to Comply with Functional Safety Standards

    Inada, Ryoichi / Hata, Takahiro / Hirotsu, Teppei et al. | SAE Technical Papers | 2015



    Functional reasoning in analog circuits

    Wunz, D.R. jun. / Cross, S.E. | Tema Archiv | 1986


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    British Library Online Contents | 2008