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    Titel :

    Discussions on Worst-Case Test Condition for Single Event Burnout


    Beteiligte:

    Kongress:

    9th, European Space Power Conference ; 2011 ; Saint Raphael, France



    Erscheinungsdatum :

    2011-01-01


    Format / Umfang :

    65 pages


    Anmerkungen:

    Held in e-store (RMS)




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Simulation for risk assessment of diode single event burnout

    Theiss, Jesse / Moision, Robert M. / Foran, Brendan et al. | IEEE | 2015


    Hypothetical worst case solar particle event doses in LE0

    Townsend, L.W. / Hoff, J.L. / Stephens, D.L. | IEEE | 2004


    Probability model for worst case solar proton event fluences

    Xapsos, M.A. / Summers, G.P. / Barth, J.L. et al. | Tema Archiv | 1999


    2.1203 Hypothetical Worst Case Solar Particle Event Doses in LEO

    IEEE | British Library Conference Proceedings | 2004