Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    In-Situ Fatigue Crack Growth Testing of Al7075-T651 under Scanning Electron Microscopy



    Kongress:

    Conference; 52nd, AIAA/ASME/ASME/ASCE/AHS/ASC Structures, structural dynamics and materials ; 2011 ; Denver, CO



    Erscheinungsdatum :

    2011-01-01


    Format / Umfang :

    9 pages


    Anmerkungen:

    Includes bibliographical references and author index



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Observations of fatigue crack initiation in 7075-T651

    Payne, Joel / Welsh, Greg / Christ, Robert J. jun. et al. | Tema Archiv | 2010


    Materials Testing - Scanning Electron Microscopy

    Nürnberger, Florian | TIB AV-Portal | 2022


    Fatigue Crack Growth Analysis Under Uncertainty

    Sankararaman, S. / Ling, Y. / Shantz, C. et al. | British Library Conference Proceedings | 2010


    Fatigue Crack Growth Analysis Under Uncertainty

    Sankararaman, Shankar / Ling, You / Shantz, Chris et al. | AIAA | 2010