Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Automated Instrument Panel Cluster Testing using Hardware in the Loop Simulators



    Kongress:

    World Congress, Society of Automotive Engineers; SAE 2008 world congress ; 2008 ; Detroit, MI



    Erscheinungsdatum :

    2008-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Automated Instrument Panel Cluster Testing using Hardware in the Loop Simulators

    Muli, Mahendra D. / Nagaraj, Shreyas C. | SAE Technical Papers | 2008



    RF Channel Simulators Assure Communication System Sucess through Hardware-in-the-Loop Testing

    Williams, S. / American Institute of Aeronautics and Astronautics | British Library Conference Proceedings | 2010


    Design validation testing of vehicle instrument cluster using machine vision and hardware-in-the-loop

    Yingping Huang, / Mouzakitis, Alexandros / McMurran, Ross et al. | IEEE | 2008