Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Development of Speed-Related Ride Quality Thresholds Using International Roughness Index


    Beteiligte:

    Kongress:

    Annual meeting; 85th, Transportation Research Board; Pavement management: monitoring, evaluation, and data storage, and accelerated testing, 2006 ; 2006 ; Washington, DC



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2006


    Format / Umfang :

    7 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Development of Speed-Related Ride Quality Thresholds Using International Roughness Index

    Yu, Jianxiong / Chou, Eddie Y. J. / Yau, Jyh-Tyng | Transportation Research Record | 2006


    Development of Speed-Related Ride Quality Thresholds Using International Roughness Index

    Yu, Jianxiong / Chou, Eddie / Yau, Jyh-Tyng | Transportation Research Record | 2006




    Ride Quality Thresholds from the Motorist's Perspective

    T. H. Poister / P. M. Garvey / M. T. Pietrucha et al. | NTIS | 2003