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    Titel :

    High-Resolution Metrology of High-Finesse Filters



    Kongress:

    18th:; ANNUAL MEETING, Lasers and Electro-Optics Society; IEEE LEOS ; 2005 ; Sydney, Australia



    Erscheinungsdatum :

    2005-01-01


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no: 05CH37693




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    High-resolution metrology of high-finesse filters

    Farrant, D.I. / Arkwright, J.W. / Fairman, P.S. | IEEE | 2005


    Maximizing the finesse in a high finesse interferometer

    Brasseur, J.K. / Repasky, K.S. / Carlsten, J.L. | IEEE | 1997


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    Shore, K. A. / Kane, D. M. / IEEE | British Library Conference Proceedings | 2001


    The finesse of flying

    Stewart, O. | Engineering Index Backfile | 1928