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    Titel :

    1021 Strategies for Radiation Hardness Testing of Power Semiconductor Devices


    Beteiligte:

    Kongress:

    Embedded topical meeting, Space nuclear conference ; 2005 ; San Diego, CA


    Erschienen in:

    Erscheinungsdatum :

    01.01.2005


    Format / Umfang :

    1 pages


    Anmerkungen:

    Held on CD-ROM



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch


    Schlagwörter :


    Nr. 1021

    DataCite | 1865

    Freier Zugriff

    Radiation-Hardness Data For Semiconductor Devices

    Price, W. E. / Nichols, D. K. / Brown, S. F. et al. | NTRS | 1984


    A 1021 Channel WDM System

    Collings, B. C. / Mitchell, M. L. / Boivin, L. et al. | British Library Online Contents | 2000



    2005-01-1021 Dual Clutch Transmissions - Lessons Learned and Future Potential

    Matthes, B. / Society of Automotive Engineers | British Library Conference Proceedings | 2005