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    Titel :

    In-situ OTDR Measurements for Single-Mode Optical Networks with a Standard VCSEL



    Kongress:

    Annual Meeting; 17TH, IEEE Lasers & Electro-optics Society:; LEOS 2004 ; 2004 ; Rio Grande, Puerto Rico



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 04CH37581




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    In-situ OTDR measurements for single-mode optical networks with a standard VCSEL

    Keeler, G.A. / Serkland, D.K. / Geib, K.M. et al. | IEEE | 2004


    Nanoscale optical measurements of VCSEL transverse mode structure

    Hong, Y. / Cambridge, J.A. / Shore, K.A. et al. | IEEE | 2001


    Nanoscale Optical Measurements of VCSEL Transverse Mode Structure

    Hong, Y. / Cambridge, J. A. / Shore, K. A. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001



    Accuracy of optical component reflectance measurements using an OTDR [2611-23]

    Poudyal, V. / Reith, L. A. / Vogel, E. M. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996