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    Titel :

    Self-Normalized Linear Tests


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, Computer vision and pattern recognition; Proceedings of the 2004 IEEE Computer Society conference on computer vision and pattern recognition: CVPR ; 2004 ; Washington, DC



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2004


    Format / Umfang :

    II-616-622


    Anmerkungen:

    Vol 2 of 2




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Self-normalized linear tests

    Gangputra, S. / Geman, D. | IEEE | 2004



    Normalized and differential convolution

    Knutsson, H. / Westin, C.-F. | IEEE | 1993


    Normalized performance comparison techniques

    ZAMANZAD GAVIDEL SAEED / TUZI GERTI / ALI SYED et al. | Europäisches Patentamt | 2022

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    Normalized object occupancy determination

    FEIT ANDREW JAMES / HENDY NOURELDIN EHAB | Europäisches Patentamt | 2025

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