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    Titel :

    Reflectivity Measurements of Internal Cavity Defects in Semiconductor Laser Diodes


    Beteiligte:

    Kongress:

    Annual meeting; 16th, IEEE Lasers & Electro-optics Society; LEOS 2003 ; 2003 ; Tucson, AZ



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2003


    Format / Umfang :

    2 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat. no. 03CH37460




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    Coupling Mechanism of Two Dimensional Reflectivity Modulated Vertical Cavity Semiconductor Laser Arrays

    Orenstein, M. / Fishman, T. / IEEE | British Library Conference Proceedings | 1992



    Evolutionary optimization of non-periodic coupled-cavity semiconductor laser diodes

    Erni, D. / Spuehler, M. M. / Froehlich, J. | British Library Online Contents | 1998


    Analysis of the Spectral Linewidth of Three-Cavity Semiconductor Laser Diodes

    Ghafouri-Shiraz, H. / Chu, C. Y. J. | British Library Online Contents | 1994