Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    A Deep Level Transient Spectroscopy Study of Vacancy-Related Defect Profiles in Channelled Ion Implanted Silicon


    Beteiligte:

    Kongress:

    Conference, Optoelectronic and microelectronic materials and devices; COMMAD 2002 ; 2002 ; Sydney, Australia



    Erscheinungsdatum :

    2002-01-01


    Format / Umfang :

    4 pages


    Anmerkungen:

    IEEE cat no 02EX601




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch





    CHANNELLED SURFBOARD

    MILLER GLENNDIN GEORGE | Europäisches Patentamt | 2018

    Freier Zugriff

    Channelled surfboard

    MILLER GLENNDIN GEORGE | Europäisches Patentamt | 2019

    Freier Zugriff

    Channelled spectrum method for birefringence dispersion measurement of anisotropic Mylar film

    Sanaâ, F. / Palierne, J.F. / Gharbia, M. | British Library Online Contents | 2016


    Channelled spectrum method for birefringence dispersion measurement of anisotropic Mylar film

    Sanaâ, F. / Palierne, J.F. / Gharbia, M. | British Library Online Contents | 2016