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    Titel :

    Surface Assessment of a Chemically Assisted Ion Beam Etched InP Sample Using Scanning Electron Microscopy and Atomic Force Microscopy Techniques


    Beteiligte:

    Kongress:

    Pacific Rim conference; 4th, Lasers and electro-optics; CLEO/Pacific Rim 2001 ; 2001 ; Chiba, Japan



    Erscheinungsdatum :

    2001-01-01


    Format / Umfang :

    II-224-225


    Anmerkungen:

    Held with InterOpto2001. IEEE cat no 01TH8557



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Atomic and Scanning Force Microscopy in Space

    Hartmann, E. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 1996


    Atomic and Scanning Force Microscopy in Space

    Hartmann, E. et al. | British Library Online Contents | 1996



    High Quality Dry Etched InP Semiconductor Laser Facets and Characterization using Atomic Force Microscopy

    IEEE; Lasers and Electro-Optics Society | British Library Conference Proceedings | 1997