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    Titel :

    In-situ single-wavelength ellipsometer for a vacuum chamber [4416-01]


    Beteiligte:

    Kongress:

    International conference, Optical engineering for sensing and nanotechnology ; 2001 ; Yokohama, Japan



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2001


    Format / Umfang :

    4 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Nr. 4416

    DataCite | 1930



    Ellipsometer for measurement in ultrahigh vacuum

    Walter, H. U. / Weitzenkamp, L. A. / Peters, P. N. | NTRS | 1976


    Holographic interferometry with additional shadowgraph visualization [4416-55]

    Kleine, H. / Takayama, K. / Optical Society of Japan et al. | British Library Conference Proceedings | 2001


    Molecular-based chiroptical dipole switches [4416-71]

    Parakka, J. P. / Schumaker, R. R. / Kesler, B. S. et al. | British Library Conference Proceedings | 2001