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    Titel :

    Very High Emittance Cryogenic Panel Development and Tests


    Beteiligte:
    Jamotton, P. (Autor:in) / Cucchiaro, A. (Autor:in) / Demaret, D. (Autor:in) / Balbeur, H. (Autor:in) / SAE

    Kongress:

    International conference; 30th, Environmental systems ; 2000 ; Toulouse, France



    Erscheinungsdatum :

    01.01.2000


    Format / Umfang :

    ALL


    Anmerkungen:

    Paper nos 2000-01-2230 to 2000-01-2531 with gaps held only



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Very High Emittance Cryogenic Panel Development and Tests

    Cucchiaro, Antonio / Demaret, David / Balbeur, Henri et al. | SAE Technical Papers | 2000


    CRYOGENIC EMITTANCE MEASUREMENTS

    Caren, R. P. | NTRS | 1962


    Measurement of Total Hemispherical Emittance at Cryogenic Temperatures

    Ohnishi, Akira / Furusawa, Tohru / Nagasaka, Yuji | SAE Technical Papers | 1996



    Measurement of Hemispherical Total Emittance in Cryogenic Temperature

    Ohnishi, A. / SAE | British Library Conference Proceedings | 1994