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    Titel :

    Comparative investigations of the bolometric properties of thin film structures based on vanadium dioxide and amorphous hydrated silicon



    Kongress:

    International scientific and engineering conference; 15th, Photoelectronics and night-vision devices ; 1998 ; Moscow



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1999


    Format / Umfang :

    7 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




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