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    Titel :

    Automated Test Data Generation from Descartes Specifications


    Beteiligte:
    Joo, H. (Autor:in) / Urban, J. E. (Autor:in) / Cooke, D.

    Kongress:

    World conference; 2nd, Integrated design and process technology ; 1996 ; Austin; TX



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    Also known as IDPT



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Automated testing from specifications

    Srinivasan, J. / Leveson, N. | IEEE | 2002


    From formal specifications to efficient test scenarios generation

    Yang, Jing / Ghazel, Mohamed / El-Koursi, El-Miloudi | IEEE | 2013


    Descartes

    Dimier, Louis | DataCite | 1918

    Freier Zugriff

    Descartes 52

    Bradley, W.F. | Engineering Index Backfile | 1946


    PATTERN-BASED AUTOMATED TEST DATA GENERATION

    PARK HOYONG / BYCHKOV VITALY | Europäisches Patentamt | 2018

    Freier Zugriff