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    Titel :

    Correlation between crystal defects and properties of CdTe:Ge radiation detectors [3182-13]



    Kongress:

    Conference, Material science and material properties for infrared optoelectronics ; 1996 ; Uzhgorod; Ukraine



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    7 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    HTSC detectors [3182-05]

    Efremenko, V. G. / SPIE- The International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 1997


    Nr. 3182

    DataCite | 1906


    Infrared thermal detectors versus photon detectors: I. Pixel performance [3182-02]

    Rogalski, A. / SPIE- The International Society for Optical Engineering | British Library Conference Proceedings | 1997


    A Spectroscopic Study of Photorefractive CdTe:Ge

    Ramaz, F. / Farid, B. / Briat, B. et al. | IEEE | 1998


    Photorefraction in CdTe:Ge enhanced by auxiliary illumination

    Odoulov, S. / Shcherbin, K. / Briat, B. et al. | IEEE | 1999