Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Boundary Scan: Moving Test Up to Higher Integration Levels



    Kongress:

    Conference; 3rd, Electronic components ; 1997 ; Noordwijk; The Netherlands



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1997


    Format / Umfang :

    6 pages


    Anmerkungen:

    Also known as EECC'97



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Boundary Scan: Moving Test Up to Higher Integration Levels

    Stearns, B. S. | British Library Online Contents | 1997


    Boundary Scan et test in situ s'unissent pour le test

    British Library Online Contents | 2003


    Boundary-scan technology

    Online Contents | 1995


    LASER SCAN SYSTEM, LASER SCAN METHOD, MOVING LASER SCAN SYSTEM, AND PROGRAM

    KURODA YOJI | Europäisches Patentamt | 2018

    Freier Zugriff

    A Study of Boundary Scan Test Technique for Integrated PCB

    Qing, L. / Zhiqiong, X. | British Library Online Contents | 2004