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    Titel :

    ASIC/MCM and Microcircuit Testing Using Commercial Practices



    Kongress:

    National aerospace and electronics conference ; 1996 ; Dayton; OH



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1996


    Format / Umfang :

    13 pages


    Anmerkungen:

    Also known as NAECON 1996. IEEE Cat nos 96CH35934 and 96CB35934




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    ASIC/MCM and microcircuit testing using commercial practices

    Miller, M. / Myers, M. | Tema Archiv | 1996



    Microcircuit-cleaning machine

    Robinson, W. W. / Williamson, J. C. | NTRS | 1978


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    Dahms, D. / Slaughter, B. | NTRS | 1977


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    Gaudiano, S. | NTRS | 1967