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    Titel :

    Life-testing oxide-confined VCSELs: too good to last? [2683-17]



    Kongress:

    Conference, Fabrication, testing, and reliability of semiconductor lasers ; 1996 ; San Jose; CA



    Erscheinungsdatum :

    1996-01-01


    Format / Umfang :

    9 pages


    Anmerkungen:

    Held as part of the SPIE OE/LASE '96 Symposium




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Reliability of proton-implanted VCSELs for data communication (Invited Paper) [2683-16]

    Guenter, J. K. / Hawthorne, R. A. / Granville, D. N. et al. | British Library Conference Proceedings | 1996


    Nr. 2683

    DataCite | 1896


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    Poeta, P. | Online Contents | 2010


    Fabrication issues of oxide-confined VCSELs [3003-11]

    Geib, K. M. / Choquette, K. D. / Hou, H. Q. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997


    1.3 micron InGaAsN oxide-confined VCSELs grown by MOCVD

    Murray, C.S. / Newman, F.D. / Shangzhu Sun, et al. | IEEE | 2002