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    Titel :

    Automated Inspection of Multiform IC Leadframes


    Beteiligte:
    You, B.-M. (Autor:in) / Kim, M.-H. (Autor:in) / Kim, H.-J. (Autor:in) / Oh, W.-G. (Autor:in)

    Kongress:

    28th International symposium, Robotics, motion and machine vision in the automotive industries ; 1995 ; Stuttgart; Germany



    Erscheinungsdatum :

    1995-01-01


    Format / Umfang :

    8 pages


    Anmerkungen:

    6; vols; Also known as 28th ISATA



    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Automated inspection of multiform IC leadframes

    You,B.M. / Kim,M.H. / Kim,H.J. et al. | Kraftfahrwesen | 1995



    A multiform time approach to real-time system modeling

    Andre, C. / Mallet, F. / Peraldi-Frati, M.A. | Tema Archiv | 2007


    Exploring high-D spaces with multiform matrices and small multiples

    MacEachren, A. / Xiping, D. / Hardisty, F. et al. | IEEE | 2003


    Exploring High-D Spaces with Multiform Matrices and Small Multiples

    MacEachren, A. / Dai, X. / Hardisty, F. et al. | British Library Conference Proceedings | 2003