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    Titel :

    Compound material investigation by spectroscopic ellipsometry [2113-12]



    Kongress:

    International workshop, Optical diagnostics of materials and devices for opto-, micro-, and quantum electronics ; 1993 ; Kiev



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1994


    Format / Umfang :

    5 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Some aspects of thin-film ellipsometry (Invited Paper) [2113-02]

    Bortchagovsky, E. G. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1994


    Nr. 2113

    DataCite | 1886


    Echolotdaten - Nordsee 2013 2113

    Bundesamt für Seeschifffahrt und Hydrographie (BSH) | Mobilithek

    Freier Zugriff

    Intracavity diagnostics of optical inhomogeneity [2113-21]

    Bekshaev, A. Y. / Grimblatov, V. M. / SPIE | British Library Conference Proceedings | 1994


    Begutachtung der neuen Berufserkrankung Karpaltunnelsyndrom BK 2113

    Höpfner, J. I. / Eisenschenk, A. / Kim, S. et al. | British Library Online Contents | 2016