Zugriff

    Zugriff über TIB

    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

    Bestellung bei Subito €


    Exportieren, teilen und zitieren



    Titel :

    Combined scanning optical and force microscope using interferometric detection [2004-35]



    Kongress:

    Conference, Interferometry VI: applications ; 1993 ; San Diego; CA



    Erscheinungsdatum :

    01.01.1994


    Format / Umfang :

    8 pages




    Medientyp :

    Aufsatz (Konferenz)


    Format :

    Print


    Sprache :

    Englisch




    Detection of Ferroelectric Domains With a Scanning Force Microscope

    Soergel, E. / Jungk, T. / Hoffmann, A. et al. | British Library Conference Proceedings | 2005


    Scanning microscope beats optical resolution

    British Library Online Contents | 1998


    A Compatible Atomic Force and Scanning Tunneling Microscope System

    Li, C. / Song, J. / Li, S. et al | British Library Online Contents | 1999


    Change Detection by Interferometric Coherence in Nasca Lines, Peru (1997-2004)

    Ruescas, A.B. / Delgado, J.M. / Costantini, F. et al. | British Library Conference Proceedings | 2010


    Micromanipulation system using scanning electron microscope

    Nakazato, Y. / Yuasa, T. / Sekine, G. et al. | British Library Online Contents | 2009