Voraussetzung für eine durchgängige Reifegradüberwachung komplexer Elektroniksysteme sind präzise definierte Begriffe und Metriken sowie eine verlässliche Informationsbasis. In diesem Beitrag wird eine Methode vorgeschlagen, welche herkömmliche hierarchische Datenmodelle zur Speicherung von Punktionsspezifikationen und Testartefakten durch ein erweitertes, generisches Datenmodell ersetzt. Mit Hilfe von Zuordnungsmatrizen werden gewichtete Mehrfachzuordnungen zwischen Systemen, Funktionen, Anforderungen und Testfällen realisiert, welche sowohl die Funktionsverteilung gemäß der Netzwerkarchitektur als auch die Abdeckung von Anforderungen durch spezifizierte Testfalle repräsentieren. Begriffe wie Testfortschritt, Testabdeckung und Systemreifegrad können damit formal definiert und durch Matrixoperationen berechnet werden. Lücken oder Widerspruche in der Spezifikation werden dabei ebenso transparent wie fehlende oder sich überlappende Testfalle. Die praktische Anwendbarkeit wird durch Standardinitialisierungen und Klassifizierungen der Zuordnungsmatrizen vereinfacht. Weitere Potentiale der Methode sind messbare Vollständigkeit der Funktionsspezifikation sowie die Unterstützung der Testplanung durch eine optimierte Testfallauswahl.
Durchgängige Reifegradüberwachung verteilter Systeme in der Nutzfahrzeug-Elektronik
2012
12 Seiten, 2 Bilder, 16 Quellen
Conference paper
German
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