Die Studie hat eine Verbesserung der Bewertungen integrierter Schaltkreise für Raumfahrtanwendungen zum Ziel. Es wurde untersucht, inwieweit sich Verfahren zur Verbesserung von Qualität und Zuverlässigkeit nutzen lassen, die IC-Hersteller für die Anwendung von Bauelementen im Nicht-Raumfahrt-Bereich verwenden. Dazu wurden die häufigsten Fehlerquellen moderner integrierter Schaltkreise und ihre Folgen für die Bewertung analysiert. Die Untersuchungen umfassen die bei der Entwicklung neuer Prozesse und Produkte allgemein üblichen Messungen, z.B. Zuverlässigkeitssimulationen, Testwaferauswertungen, Prozeßkontrollmethoden und Ausbeuteanalysen. Die Analyseergebnisse wurden mit dem ESA/SCC-System für Raumfahrtanwendungen verglichen. Es zeigte sich, daß die Qualitäts-Management-Systeme der Hersteller von Raumfahrt-ICs und die Untersuchungen zum Alterungsausfall bzw. der Lebensdauer der Schaltkreise selbst gut abgedeckt werden, jedoch defektbezogene Fehler, die das Zuverlässigkeitsgesamtbild des Bauelementes bestimmen, sind für die Bewertung nicht ausreichend und sollten verbessert werden. Die in der Studie ausgewiesenen Trends in der Bauelement-Bewertung können als Basis für Verbesserungen bei Raumfahrtanwendungen dienen.


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    Title :

    Advances in the evaluation of the quality and reliability of integrated circuits


    Contributors:
    Colquhoun, A. (author) / Korn, M. (author)


    Publication date :

    2000


    Size :

    6 Seiten, 3 Bilder, 1 Tabelle, 6 Quellen




    Type of media :

    Conference paper


    Type of material :

    Print


    Language :

    English




    Advances in the Evaluation of the Quality and Reliability of Integrated Circuits

    Colquhoun, A. / Korn, M. / European Space Agency | British Library Conference Proceedings | 2000



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