Die Entwicklung des Selbsttestsystems BIST (Built-in Self Test), die auf Funktionstests basiert, wie sie bei Halbleitern angewendet werden, für die Autoelektronik wird vorgestellt. Das BIST-System besteht aus einem kleinen Softwaremodul in Kombination mit verschiedenen Cores. Bei der Entwicklung der Cores, zu denen auch ASSPs (Application Specific Standard Products) und ASICs (Application Specific Integrated Circuits) gehören, werden gleichzeitig Eingangs- und Ausgangsvektoren erzeugt. Die Testvektoren (TVs) werden aus den Eingangs- und Ausgangszuständen gebildet, die mit Hilfe einer speziellen Software erfaßt werden. Mit den TVs sollen so viele Gates im Core wie möglich angesprochen werden. Dann sind die TVs dahingehend zu prüfen, ob sie eine ausreichende Fehlerabdeckung des Cores liefern. Während des Produktionstests der Halbleiter werden die Eingangs-TVs auf die Eingänge des Cores geschaltet, während an den Ausgängen geprüft wird, ob die erwarteten Ausgangs-TVs auftreten. Bei Abweichungen sind Korrekturen erforderlich. Für die BIST-Prüfmodule ist die Software demgegenüber verbessert und erweitert worden. Alle Statusinformationen des Prozessors werden gespeichert und müssen mit zeitkritischen Interrupt-Routinen koexistieren. Die BIST-Software ermöglicht eine kontinuierliche Funktionsprüfung des Cores während des Betriebs. Die BIST-Systeme für die Autoelektroniktests bestehen aus zwei Cores, von denen jedes über ein Signaturregister verfügt. Vor dem Test werden die Signaturregister mit bekannten Anfangswerten initialisiert. Im Normalbetrieb führt das System eine BIST-Prüfung auf jedem Core durch. Die BIST-Software läuft dann unabhängig auf jedem Core, und die Ergebnisse werden im Signaturregister abgelegt. Besondere Vorteile des BIST-Systems sind eine Prüfung der Core-Funktionen beim Einschalten und im Normalbetrieb, eine Core-Fehlerabdeckung von mehr als 90 %, eine Code-Größe von kleiner als 8 kB, eine Testablaufzeit beim Booten von unter 682 ms, eine Gesamttestdauer von unter 100 ms mit einem Takt von 15 MHz und ein Speicherbedarf für einen Echtzeit-Speichertest von nur etwa 500 Byte.


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    Title :

    Selbsttest in der Kfz-Elektronik


    Additional title:

    Self testing in automotive electronics


    Contributors:
    Slater, J. (author)


    Publication date :

    2000


    Size :

    2 Seiten, 3 Bilder



    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German




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