Plenarvortrag, gehalten auf der Informationstagung 'Mikroelektronik 1977' (Wien, Nov. 1977). Es werden ausfuehrlich die Anforderungen der ESA (European Space Agency) geschildert, die an mikroelektronische Bauteile im Rahmen der Raumfahrtaktivitaeten gestellt werden. Ausgehend von Angaben zur Ausfallrate fuer diskrete Bauelemente werden verschiedene Vorhersagemodelle fuer integrierte Bauteile diskutiert. Es wird gezeigt, dass nicht weniger umfangreiche Tests, sondern eine bessere analytische Durchdringung des jeweiligen Prozesses Fortschritte bringen. Erste Erfahrungen mit den vorgestellten Methoden und die Grenzen besonders bei LSI-Schaltkreisen werden beschrieben.
Reliability and quality requirements on microelectronics for space use
Zuverlaessigkeits- und Qualitaetsanforderungen an mikroelektronische Bauteile in der Raumfahrt
Elektrotechnik und Maschinenbau ; 95 , 6 ; 316-323
1978
8 Seiten, 4 Bilder, 4 Tabellen, 9 Quellen
Article (Journal)
English
Microelectronics and space vehicle reliability.
NTRS | 1966
|NTIS | 2017
|Automotive demands for quality and reliability in microelectronics
Tema Archive | 1999
|Keynote: Space Microelectronics
British Library Conference Proceedings | 1999
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