Plenarvortrag, gehalten auf der Informationstagung 'Mikroelektronik 1977' (Wien, Nov. 1977). Es werden ausfuehrlich die Anforderungen der ESA (European Space Agency) geschildert, die an mikroelektronische Bauteile im Rahmen der Raumfahrtaktivitaeten gestellt werden. Ausgehend von Angaben zur Ausfallrate fuer diskrete Bauelemente werden verschiedene Vorhersagemodelle fuer integrierte Bauteile diskutiert. Es wird gezeigt, dass nicht weniger umfangreiche Tests, sondern eine bessere analytische Durchdringung des jeweiligen Prozesses Fortschritte bringen. Erste Erfahrungen mit den vorgestellten Methoden und die Grenzen besonders bei LSI-Schaltkreisen werden beschrieben.


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    Title :

    Reliability and quality requirements on microelectronics for space use


    Additional title:

    Zuverlaessigkeits- und Qualitaetsanforderungen an mikroelektronische Bauteile in der Raumfahrt


    Contributors:

    Published in:

    Publication date :

    1978


    Size :

    8 Seiten, 4 Bilder, 4 Tabellen, 9 Quellen



    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    English





    Microelectronics Reliability

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