Es wird eine Literatur-Uebersicht ueber zerstoerungsfreie Methoden der elektrischen Charakterisierung von Halbleitern zusammengestellt. Eine Zusammenfassung jeder Technik bezieht sich auf die Anwendbarkeit der Technik auf verschiedene Bauelement-Parameter und moegliche in-flight-Verwendung vor, waehrend und nach Wachstumsexperimenten bei Raumfluegen. Es wird geschlossen, dass die neuere kommerzielle Grossproduktion integrierter Schaltungen und anderer Halbleiterelemente mit Mikrometer-Genauigkeiten zerstoerungsfreie Testmethoden enthalten, die gut fuer NASA-in-flight-Verwendung geeignet sind.
Space processing of crystalline materials: A study of known methods of electrical characterization of semiconductors
Verarbeitung kristalliner Materialien im Raum: Eine Untersuchung bekannter Methoden der elektrischen Charakterisierung von Halbleitern
NASA-Reports ; Jan. ; 1-24
1976
24 Seiten
Report
English
Infrared applications of semiconductors: materials, processing, and devices
British Library Conference Proceedings | 1996
|Study of Materials for Space Processing
NTIS | 1974
|Study of materials for space processing
NTRS | 1974
|Known Good Die - Flexible Solutions for Space
British Library Online Contents | 1997
|Record of all known space-vehicle launchings
Engineering Index Backfile | 1961