Es wird eine Literatur-Uebersicht ueber zerstoerungsfreie Methoden der elektrischen Charakterisierung von Halbleitern zusammengestellt. Eine Zusammenfassung jeder Technik bezieht sich auf die Anwendbarkeit der Technik auf verschiedene Bauelement-Parameter und moegliche in-flight-Verwendung vor, waehrend und nach Wachstumsexperimenten bei Raumfluegen. Es wird geschlossen, dass die neuere kommerzielle Grossproduktion integrierter Schaltungen und anderer Halbleiterelemente mit Mikrometer-Genauigkeiten zerstoerungsfreie Testmethoden enthalten, die gut fuer NASA-in-flight-Verwendung geeignet sind.


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    Title :

    Space processing of crystalline materials: A study of known methods of electrical characterization of semiconductors


    Additional title:

    Verarbeitung kristalliner Materialien im Raum: Eine Untersuchung bekannter Methoden der elektrischen Charakterisierung von Halbleitern


    Contributors:

    Published in:

    NASA-Reports ; Jan. ; 1-24


    Publication date :

    1976


    Size :

    24 Seiten


    Type of media :

    Report


    Type of material :

    Print


    Language :

    English




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