Für die berührungslose, zerstörungsfreie Charakterisierung der Beschaffenheit anwendungs- und fertigungsrelevanter Oberflächen kann optische Nanotechnologie eingesetzt werden. In einem Projekt des Fraunhofer-Institus für Angewandte Optik wird die Anwendung des Streulichtmessverfahrens zur Bestimmung der Oberflächenrauheit im Nanobereich untersucht. Unter Laborbedingungen wurden bereits sehr genaue und robuste Messverfahren entwickelt. Um die gewonnenen Messinformationen auch der eindeutigen, anschaulichen, leicht zu erfassenden Auswertung und Nutzung im Produktionsumfeld zugänglich machen zu können bedarf es noch einiger Forschungen zur Entwicklung erforderlicher industrieller Messtechnik. Die dabei im Projekt zu lösenden Aufgabenstellungen werden im Beitrag erläutert


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    Title :

    Bewertung von Nanorauheiten durch Streulichtmessung


    Additional title:

    Nano-roughness assessment by light scattering measurement



    Published in:

    tm - Technisches Messen ; 73 , 1 ; 35-42


    Publication date :

    2006-01-01


    Size :

    8 pages



    Type of media :

    Article (Journal)


    Type of material :

    Print


    Language :

    German





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