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    Title :

    Light and elevated Temperature Induced Degradation (LeTID) of the carrier lifetime in multicrystalline silicon


    Contributors:

    Publication date :

    2020


    Size :

    1 Online-Ressource (ix, 109 Seiten, 5248 KB)


    Remarks:

    Digital preservation by Technische Informationsbibliothek (TIB) / Leibniz-Informationszentrum Technik und Naturwissenschaften und Universitätsbibliothek



    Type of media :

    Theses


    Type of material :

    Electronic Resource


    Language :

    German



    Classification :

    BKL:    33.72 Halbleiterphysik / 33.68 Oberflächen, Dünne Schichten, Grenzflächen / 53.36 Energiedirektumwandler, elektrische Energiespeicher
    DDC:    530.4175